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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 分立器件實驗設備 大功率晶體管 大功率晶體管老化測試系統 (MFS2002)

            大功率晶體管老化測試系統(MFS2002)

            該系統適用各種NPN、PNP晶體管(包括三極管、達林頓管)、MOSFET管進行大功率老化篩選試驗;適應F-1、F-2(粗細腳兼容)、TO-3P、TO-220封裝。

            功能
            • 本系統提供4個測試區,每個區提供16個老化工位,共64工位
            • 每個區提供一套水冷平臺
            • 設備采用觸摸屏控制
            產品特性

            老化試驗區

             4區

            試驗能力

            75W以下的試驗條件,整機試驗能力為64位

            150W以下的試驗條件,整機試驗能力為32位

            300W以下的試驗條件,整機試驗能力為16位

            冷卻系統

            制冷功率≥4KW,每區流量16-160L/h

            試驗參數

            可測試、控制每個試驗器件的試驗電流值,范圍:0~5A/10A

            可測試、控制每個試驗器件的試驗電壓值,范圍:0~60V

            各分區溫度可獨立檢測,溫度檢測范圍:10~90℃,溫度檢測精度:±(1%+2LSB)

            整機供電

            三相AC380V±38V

            最大功率

            10KW(典型)

            整機重量

            800KG(典型)

            整機尺寸

            1300mm(W)×950mm(D)×2000mm(H)

            適用標準

            GJB128 GJB33 MIL-STD-750

            適用器件

            適用于F0、F1、F2(細)、F2-3(粗)、TO-3P等封裝的晶體管、三極管、MOS管

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