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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 電容器高溫試驗設備 電容測試 電容器高溫高阻測試系統 (HTIR2010)

            電容器高溫高阻測試系統(HTIR2010)

            該系統采用自動化測量系統,可進行室溫+10℃~150℃電容器IR值測量。測量時,通過模組控制測試探頭的位移進行測試,確保每次只連接一只電容器。機械接觸代替繼電器切換,提高測量精度。

            功能
            • 實時監測被測器件IR值
            • 選用Keithley 6517B 靜電計/高阻表進行測量
            • 可根據不同器件封裝,定制專用老化測試板
            • 裝載阻抗大于10 Ω的電容器時,測試到的阻抗不小于10 Ω
            產品特性

            試驗溫區

            1個

            試驗溫度

            室溫+10~150℃

            老化試驗區

            16區

            單區工位數

            48(典型)

            測量儀表

            Keithley 6517B靜電計/高阻表

            測試電壓

            0~1000V

            絕緣電阻范圍

            1M2~1TQ

            整機供電

            單相AC220V±22V

            最大功率

            5KW(典型)

            整機重量

            600KG(典型)

            整機尺寸

            1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

            適用標準

            GJB360 MIL-STD-202E

            適用器件

            適用于片式封裝: 04/06/08/10/12/18/20/22/28/32等系列

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