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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 電容器高溫試驗設備 電容器老化 電容器高溫老化測試系統 (MKP2070)

            電容器高溫老化測試系統(MKP2070)

            該系統可進行室溫+10℃~200℃的電容器老化篩選試驗,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,對超限器件進行保護剔除,并根據需要記錄老化數據,導出試驗報表。

            功能
            • nA級別的漏電流檢測精度
            • 整機30s的全工位數據刷新
            • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
            • 單工位老化剔除
            • 過流保護響應時間小于100us
            • 獨特的自動充放電回路設計
            • 充分的實驗員人體安全考慮設定
            產品特性

            試驗溫區

            1個

            試驗溫度

            室溫+10~200℃

            老化試驗區

            16區(16/32/40區可選)

            單區工位數

            40(典型)

            老化電壓范圍

            0~1200V

            電壓檢測精度

            ±(1%+2LSB)

            電流檢測范圍

            10nA~30mA

            電流檢測精度

            ±(1%+10nA)

            整機供電

            三相AC380V±38V

            最大功率

            8KW(典型)

            整機重量

            680KG(典型)

            整機尺寸

            1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

            適用標準

            GJB360 MIL-STD-202E

            適用器件

            適用于片式陶瓷電容器(MLCC)、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等

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