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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 高溫試驗設備 高溫柵偏 高溫柵偏老化測試系統 (HTGB2000A)

            高溫柵偏老化測試系統(HTGB2000A)

            該系統可進行室溫+ 10°C-200C的高溫柵偏老化測試,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,并根據需要,記錄老化試驗數據,導出試驗報表。

            功能
            • nA級別的漏電流檢測精度
            • 整機30s的全工位數據刷新
            • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實現單工位老化超限剔除
            • 充分的實驗員人體安全考電設定
            產品特性

            試驗溫區

            1個

            試驗溫度

            室溫+10~200℃

            老化試驗區

            16區(16/32/40/48區 可選)

            單區工位數

            80(典型)

            老化電壓范圍

            0~±100V

            電壓檢測精度

            ±(1%+2LSB)

            電流檢測范圍

            1nA~1mA

            電流檢測精度

            ±(1%+10nA)

            整機供電

            三相AC380V±38V

            最大功率

            8KW(典型)

            整機重量

            680KG(典型)

            整機尺寸

            1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H)

            適用標準

            JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D

            適用器件

            適用于MOS、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等

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