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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 分立器件實驗設備 間歇壽命試驗 間歇壽命老化測試系統 (IOL2000)

            間歇壽命老化測試系統(IOL2000)

            該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環試驗和恒流功率試驗。系統每個區位風道獨立,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。

            功能
            • 風冷功率循環試驗
            • 每個區位獨立風道
            • 大風力散熱風機
            • 最大60A電流試驗能力
            • 支持全開通加熱模式
            產品特性

            試驗溫區

            1個(K系數)

            試驗溫度

            室溫+10~200℃(K系數)

            老化試驗區

            16區(8/16/20區可選)

            單區工位數

            4(典型)

            工位最大可串聯數量

            8

            老化電壓范圍

            0~60V

            電壓檢測精度

            ±(1%+2LSB)

            電流檢測范圍

            100mA~60A

            電流檢測精度

            ±(1%+100mA)

            結溫測試電流(Isense)

            10~100mA

            整機供電

            三相AC380V±38V

            最大功率

            30KW(典型)

            整機重量

            1200KG(典型)

            整機尺寸

            2075mm(W)×1350mm(D)×1950mm(H)

            適用標準

            GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101

            適用器件

            適用于MOS管、二極管、三極管等功率器件

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