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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 分立器件實驗設備 間歇壽命試驗 間歇壽命老化測試系統 (IOL3000)

            間歇壽命老化測試系統(IOL3000)

            該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、T-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環試驗和恒流功率試驗。系統每個區位風道獨立,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。

            功能
            • 風冷功率循環試驗
            • 每個區位獨立風道
            • 大風力散熱風機
            • 最大60A電流試驗能力
            • 支持全開通加熱模式
            • 充分的實驗員人體安全考慮設定


            產品特性

            試驗模式

            風冷

            試驗風道

            16個

            老化試驗區

            16區

            單區工位數

            16-80(典型)

            最大負載

            300m(被測器件橫流模式) 60A(飽和導通模式)

            最大電壓

            45V

            最大測試溫度

            200°C

            電壓檢測精度


            ± (1+2LSB)


            柵極控制電壓

            ±15V

            結溫測試電流(Isense)


            Isense 10~100mA


            接地電阻

            ≤1Ω

            整機供電


            三相AC380V±38V


            最大功率

            50KW(典型)

            整機重量

            700KG(典型)

            整機尺寸

            1800mm(W)x1400mm(D)x1950mm(H)

            適用標準

            MIL-STD-750D AEC-Q101

            適用器件

            適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、SIC、GAN、可控硅等

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