當前位置: 首頁(yè) 創(chuàng )新科技 解決方案 LSIC老化機臺測試系統

LSIC老化機臺測試系統

方案概述

LSIC老化機臺測試系統是用于測試半導體芯片老化性能的設備。半導體芯片在長(cháng)時(shí)間運行后,可能會(huì )出現老化現象,比如電容降低、漏電流增加等,這些現象會(huì )影響芯片的性能和可靠性。因此,LSIC老化機臺測試系統被用來(lái)模擬芯片長(cháng)時(shí)間運行的環(huán)境,以便測試芯片在長(cháng)時(shí)間使用后的性能及可靠性。

該系統通常包含加熱、降溫、恒溫等多種測試條件,并配有專(zhuān)業(yè)的測量?jì)x器,可以對芯片的電學(xué)性能、熱學(xué)性能、機械性能等進(jìn)行測試。此外,該測試系統還可以記錄芯片的使用時(shí)間、電壓、溫度等參數,以幫助工程師分析芯片的工作情況和預測芯片的使用壽命。


技術(shù)參數
LSIC2000/7000系列LSIC8000系列主要技術(shù)參數
1.提供32個(gè)老化插槽,可獨立老化16種不同器件1.提供16個(gè)老化插槽,可獨立老化16種不同器件
2.每個(gè)老化插槽提供184路可獨立編程的數字信號,其中有32路為雙向I/02.每個(gè)老化插槽提供128路可獨立編程的數字信號,128路全為雙向I/0
3.每個(gè)老化插槽提供8個(gè)DPS二級電源,二級電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級電源的電壓精度為士5%+30mV; 電流精度為-1%+50mA3.每個(gè)老化插槽提供8個(gè)DPS二級電源,二級電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級電源的電壓精度為士5%o+30mV; 電流精度為+1%+50mA
4.上升/下降時(shí)間參10nS4.上升/下降時(shí)間至10nS
5.數字信號Pin最大驅動(dòng)電流: 50mA5.數字信號Pin最大驅動(dòng)電流: 50mA
6.數字信號最大頻率可達12.5Mhz6.數字信號最大頻率可達12.5Mhz
7.向量最大深度可達16M行7.向量最大深度可達16M行
8.文件格式為VEC格式,支持sti1格式文件直接轉換為VEC格式文件8.文件格式為VEC格式,支持sti1格式文件直接轉換為VEC格式文件
支持向量指令ADV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調用指令:CALL,RET9.支持向量指令ADV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調用指今: CALL,RET
10.支持8路獨立溫控:溫控精度至3”C