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            產品導航
            當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 微波器件老化試驗 微波功率器件直流老化 微波管高溫靜態工作老化測試系統 (MFS2004)

            微波管高溫靜態工作老化測試系統(MFS2004)

            該系統共配置12個獨立工作的試驗區,每個試驗區具備4路器件老化工位,整機共48個器件老化工位,12個試驗區可通過上位機實現獨立或同時控制、監測、記錄、通訊。每個工位可以獨立控制被測器件的殼溫,檢測精度達1%±2℃。實時監測老化過程中被測器件的各項參數并進行記錄,采用技術先進的可調穩壓大功率二次電源。

            功能
            • 實時監測被測器件的電流、電壓狀態,自動調整被測器件的電流
            • 可獨立控制被測器件的殼溫,精度達1%±2℃
            • 可適配不同封裝、功率要求的微波功率器件
            產品特性

            試驗溫區

            12個

            試驗溫度

            70~200℃

            老化試驗區

            12區

            漏極電壓控制范圍

            0.01~60V

            漏極電壓控制精度

            ±(1%+0.1V)

            柵極電壓控制范圍

            -10~10V

            柵極電壓控制精度

            ±(1%+0.01V)

            漏極電流檢測范圍

            0~5A

            漏極電流檢測精度

            ±(1%+1mA)

            柵極電流檢測范圍

            0~50mA

            柵極電流檢測精度

            ±(1%+0.01mA)

            殼溫波動度

            ±1℃

            殼溫檢測精度

            ±(1%+2℃)

            電源

            0~60V/40A(12路可選配)

            整機供電

            三相AC380V±38V

            最大功率

            25KW(典型)

            整機重量

            1000KG(典型)

            整機尺寸

            1800mm(W)×1300mm(D)×2000mm(H)

            適用標準

            GJB128 MIL-STD-750 MIL-M-19500

            適用器件

            適用于GaN、GaAs等微波管

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